Siemens - Elmo Diffraktometer 5000 /Kristalloflex

Il D5000 può essere utilizzato per determinare la struttura cristallina di un materiale mediante diffrazione dei raggi X. Indirizzando un fascio di raggi X sul campione, il D5000 misura i modelli di diffrazione che si verificano quando la radiazione viene dispersa dagli atomi nel reticolo cristallino. Questi modelli vengono analizzati per ottenere informazioni sull'organizzazione degli atomi nel reticolo cristallino.