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Siemens - Elmo Diffraktometer 5000 /Kristalloflex
-Diverso
- General
- SKU300U907
- LocalizaçãoBarneveld
- FabricanteSiemens
- ModeloDiffraktometer D5000
- Ano de construção1991
- Espaço de chão1,03x1,03 m
- Altura total1,84 m
- Peso760 kg
- Especificações adicionais
Informação adicional
O D5000 pode ser usado para determinar a estrutura cristalina de um material através da difração de raios X. Ao direcionar um feixe de raios X para a amostra, o D5000 mede os padrões de difração que surgem quando a radiação é dispersa pelos átomos na rede cristalina. Esses padrões são analisados para obter informações sobre o arranjo dos átomos na rede cristalina.
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