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Siemens - Elmo Diffraktometer 5000 /Kristalloflex

Vario

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  • General
  • SKU300U907
  • UbicaciónBarneveld
  • HacerSiemens
  • TipoDiffraktometer D5000
  • Año de construcción1991
  • Espacio de piso1,03x1,03 m
  • Altura total1,84 m
  • Peso760 kg
  • Especificaciones adicionales

Información adicionales

El D5000 puede ser utilizado para determinar la estructura cristalina de un material mediante difracción de rayos X. Al dirigir un haz de rayos X sobre la muestra, el D5000 mide los patrones de difracción que surgen cuando la radiación es dispersada por los átomos en el retículo cristalino. Estos patrones se analizan para obtener información sobre la disposición de átomos en el retículo cristalino.

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